電子產(chǎn)品可靠性工程
培訓(xùn)對(duì)象：
從事電子、電器、電工產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)、制造、品質(zhì)管理、
項(xiàng)目管理等人員、專業(yè)產(chǎn)品和設(shè)備的
可靠性工程師、測(cè)試工程師及其主管領(lǐng)導(dǎo)；電子信息、機(jī)電一體化、電器等技術(shù)創(chuàng)新行業(yè)的高級(jí)管理人員、工藝師、質(zhì)量師和可靠性師、失效分析技術(shù)等人員。
課程背景：
隨著電子產(chǎn)品的體積與重量日益縮小，技術(shù)含量不斷擴(kuò)大，智能化程度成倍提高，對(duì)電子產(chǎn)品可靠性的要求已成為衡量其質(zhì)量最重要的技術(shù)指標(biāo)之一。可靠性不僅在國(guó)防、航天、航空等尖端技術(shù)領(lǐng)域倍受關(guān)注，在工業(yè)、民用電子等領(lǐng)域也同樣得到重視。國(guó)際領(lǐng)先企業(yè)非常重視產(chǎn)品的可靠性，并將產(chǎn)品的可靠性貫穿于整個(gè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、研發(fā)、和生產(chǎn)全過(guò)程，以確保產(chǎn)品質(zhì)量。與發(fā)達(dá)國(guó)家相比，目前我國(guó)電子產(chǎn)品的可靠性亟待提高。為幫助廣大電子企業(yè)的技術(shù)和管理人員更好地開(kāi)展可靠性管理工作，掌握可靠性技術(shù)。
課程收益：
1.掌握電子產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)流程。
2.具備電子產(chǎn)品整機(jī)可靠性的分析技術(shù)。
3.具備電子產(chǎn)品硬件設(shè)計(jì)的分析技術(shù)。
4.幫助您的企業(yè)實(shí)現(xiàn)以下目標(biāo)：
（1）將提高系統(tǒng)設(shè)計(jì)的可靠性，進(jìn)而提高設(shè)計(jì)的質(zhì)量。
（2）縮短開(kāi)發(fā)調(diào)試時(shí)間，進(jìn)而降低開(kāi)發(fā)成本。
5. 免費(fèi)得到電子版概率紙
課程大綱：
一、可靠性指標(biāo)
案例1：求產(chǎn)品可靠性指標(biāo)
案例2：電子組件可靠度變化
案例3：一元件壽命服從指數(shù)分布，其平均壽命θ為2000小時(shí)，求故障率λ及求可靠度R (100)=? R(1000)=?
案例4：計(jì)算系統(tǒng)MTTF
案例5：從產(chǎn)品MTBF得到的信息
案例6：已知設(shè)備服從指數(shù)分布規(guī)律，且失效率λ＝4×lO－4小時(shí)，請(qǐng)求出平均無(wú)故障工作時(shí)間是多少？如果要求有90%的把握不出故障，其使用時(shí)間應(yīng)如何選擇？
案例7：可靠性指標(biāo)的選擇
案例8：硬盤驅(qū)動(dòng)器(HDD)的浴盆曲線
二、可靠性建模
案例9：美國(guó)海軍F/A-18A戰(zhàn)斗機(jī)的基本可靠性模型
案例10：F/A-18A飛機(jī)的任務(wù)可靠性框圖
案例11：電容并聯(lián)的邏輯圖
案例12：常開(kāi)觸頭繼電器可靠性框圖
案例13：儲(chǔ)備電源系統(tǒng)的原理圖和可靠性框圖
案例14：某組合電源使用兩臺(tái)30A電源單體提供48V/60A供電,且用戶要求帶負(fù)載時(shí)實(shí)際供電電流不得低于50A,每臺(tái)單體的失效率λ為0.5×10-4/小時(shí)。求MTBF
案例15：機(jī)載偵察及武器控制系統(tǒng)建模
案例16：某組合電源為例提供48V/30A供電,由于該單體可靠性差,為提高其任務(wù)可靠性,承制方使用兩臺(tái)30A電源單體并聯(lián)均流供電,如果任一單體發(fā)生故障,另外一單體仍能完成系統(tǒng)要求的任務(wù),每臺(tái)單體的失效率λ為0.5×10-4/小時(shí)。求MTBF
案例17：案完成任務(wù)過(guò)程，某產(chǎn)品需要循環(huán)動(dòng)作100次，其故障率λcy=5次故障/106循環(huán)，求可靠度
案例18：用戶要求提供48V/100A供電，需要至少四臺(tái)單體電源并聯(lián)均流,每臺(tái)單體的失效率λ為0.5×10-4/小時(shí)，MTBF為20000小時(shí)，與用戶簽訂的合同中規(guī)定該組合電源的系統(tǒng)可靠性指標(biāo)較高,為15000小時(shí),如果僅采用四臺(tái)單體供電,其可靠性結(jié)構(gòu)模型為串聯(lián)模型,經(jīng)計(jì)算MTBF=5000小時(shí)，為提高系統(tǒng)任務(wù)可靠性,承制方使用多少臺(tái)30A電源單體并聯(lián)均流供電，才能保證系統(tǒng)分配的指標(biāo)?
案例19：某兩臺(tái)發(fā)電機(jī)構(gòu)成旁聯(lián)模型，發(fā)電機(jī)故障率λ=0.001h-1，切換開(kāi)關(guān)成功概率0.98，求運(yùn)行100小時(shí)的可靠度。
三、可靠性指標(biāo)分配
案例20：某抗荷服由衣面、膠囊、接鏈三個(gè)部分串聯(lián)組成。若要求該抗荷服的可靠度指標(biāo)為0.9987，試用等分配法確定衣面、膠囊、拉鏈的可靠度指標(biāo)。
案例21：某飛機(jī)可靠性評(píng)分分配法
案例22：某艦載綜合火控雷達(dá)系統(tǒng)加權(quán)分配
案例23：根據(jù)飛機(jī)各分系統(tǒng)故障百分比的統(tǒng)計(jì)資料分配指標(biāo)
案例24：串并聯(lián)系統(tǒng)可靠度分配
案例25：考慮重要度和復(fù)雜度分配法
四、可靠性指標(biāo)預(yù)計(jì)
案例26：產(chǎn)品研制過(guò)程中可靠性指標(biāo)的要求
案例27：預(yù)計(jì)系統(tǒng)中金屬膜電阻器總失效率
案例28：已知一只金屬膜電阻器的額定功率為0.25W，阻值為20K,使用在一般固定地面環(huán)境，質(zhì)量等級(jí)B，電阻器的工作環(huán)境溫度為50℃，耗散功率為0.1W，求其失效率。
案例29：推算鋁電解電容壽命
案例30：某器件高溫貯存溫度為T1=150和T2=100℃；在T1和T2溫度下所得到試驗(yàn)樣品組平均壽命ξ1=50h；ξ2=200h，計(jì)算該器件在25℃下的工作壽命。
案例31：導(dǎo)彈改進(jìn)后預(yù)計(jì)可靠性
案例32：某飛行器由動(dòng)力裝置、武器等六個(gè)分系統(tǒng)組成。已知制導(dǎo)裝置故障率284.5×10-6/h，試用評(píng)分法求得其它分系統(tǒng)的故障率
五、可靠性篩選試驗(yàn)
案例33：半導(dǎo)體分立器件篩選
案例34：半導(dǎo)體集成電路的篩選
案例35：筆記本電腦觸摸屏之控制板交變濕熱試驗(yàn)
案例36：變壓器交變濕熱試驗(yàn)
案例37：無(wú)冷卻系統(tǒng)的產(chǎn)品篩選
六、可靠性壽命試驗(yàn)
案例38：某電子產(chǎn)品的加速壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì)方案
案例39：熱敏電阻器加速壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì)
案例40：鋁電解電容器加速壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì)
案例41：某火工品加速壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì)
案例42：某榴彈引信加速壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì)
案例43：某電容器加速貯存壽命試驗(yàn)的可行性研究
案例44：6個(gè)某電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)，失效時(shí)間分別為：7，12，19，29，41，67h,利用圖估計(jì)法評(píng)估該產(chǎn)品的失效率λ
案例45：6個(gè)某電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)，失效時(shí)間分別為：16，34，53，75，93，120h,利用圖估計(jì)法評(píng)估形狀參數(shù)m和特征壽命η的值
案例46：8個(gè)某電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)，失效時(shí)間分別為：45，140，260，500，850，1400，3000，9000h,利用概率圖評(píng)估對(duì)數(shù)正態(tài)分布中的參數(shù)μ（對(duì)數(shù)均值）和σ（對(duì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)差）
案例47：7個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行定時(shí)截尾壽命試驗(yàn)，截尾時(shí)間為700小時(shí)，試驗(yàn)結(jié)果（失效數(shù)據(jù)）如下：120，450，450，530，600，650h。產(chǎn)品壽命服從指數(shù)分布，求θ和λ的MLE，可靠性指標(biāo)R0(200)和t0.9的單側(cè)置信限。（置信水平取0.9）
案例48：9個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行定數(shù)截尾壽命試驗(yàn)，截尾數(shù)為r＝7，試驗(yàn)結(jié)果（失效數(shù)據(jù)）如下：150，450，500，530，600，650，700h。產(chǎn)品壽命服從指數(shù)分布，求θ的MLE，可靠性指標(biāo)R0(100)和t0.9的單側(cè)置信限。（置信水平取0.9）
案例49：定數(shù)截尾恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析
案例50：某固體鉭電解電容器雙因子加速壽命試驗(yàn)
案例51：金屬膜電阻加速退化試驗(yàn)
案例52：某電容器的加速退化試驗(yàn)
案例53：激活能測(cè)算
案例54：密封皮碗加速壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì)
案例55：硫化橡膠加速老化試驗(yàn)及壽命預(yù)測(cè)
案例56：某電容器加速壽命試驗(yàn)的失效機(jī)理漂移分析
案例57：高頻大功率晶體管3DA76D的加速壽命試驗(yàn)
案例58：?jiǎn)紊夂桶坠釲ED壽命預(yù)測(cè)
案例59：肖特基二極管壽命預(yù)測(cè)
案例60：某種產(chǎn)品，要求在90%的置信度下MTBF（或1/λ）為2000H，如何判定此產(chǎn)品的可靠性是否達(dá)到了規(guī)定的要求？
案例61：某種產(chǎn)品，要求在90%的置信度下MTBF為20000H，因單價(jià)較貴，只能提供10臺(tái)左右的產(chǎn)品做測(cè)試，請(qǐng)問(wèn)如何判定此產(chǎn)品的可靠性是否達(dá)到規(guī)定的要求？
案例62：求產(chǎn)品的MTBF
案例63：飛機(jī)副油箱尾錐壽命預(yù)測(cè)
七、可靠性分析技術(shù)
案例64：鍍通孔顯微分析
案例65：收集樣品信息失誤
案例66：某EPROM使用后無(wú)讀寫功能失效分析
案例67：由反向I-V特性確定失效機(jī)理
案例68：用C-SAM檢查大功率三極管芯片粘接情況
案例69：鑒頻器組件失效分析
案例70：核電站發(fā)電機(jī)勵(lì)磁機(jī)的整流器二極管失效分析
案例71：射頻前置放大IC失效
案例72：假冒器件分析
案例73：新研發(fā)5只樣品最早2小時(shí)失效，最遲2個(gè)月失效
案例74：繼電器失效分析
案例75：PCBA故障點(diǎn)定位
案例76：鍵合失效
案例77：傳感器失效分析
案例78：器件內(nèi)部污染
案例79：FPC上的IC剝離力不合格
案例80：過(guò)電證據(jù)
八、可靠性設(shè)計(jì)
案例82：FMEA技術(shù)在CDMA直放站中的應(yīng)用
案例83：某雷達(dá)FMECA
案例84：調(diào)諧電路最壞情況電路分析
案例85：放大電路最壞情況分析
案例86：用矩量法來(lái)預(yù)測(cè)某種型號(hào)固態(tài)電阻器裕度范圍
案例87：提高焊點(diǎn)的疲勞壽命