電子元器件失效分析技術(shù)及經(jīng)典案例
作者: 來源: 文字大小:[大][中][小]
第一講 失效分析概論
1.基本概念
2.失效分析的定義和作用
3.失效模式
4.失效機(jī)理
5.一些標(biāo)準(zhǔn)對(duì)失效分析的要求
6.標(biāo)準(zhǔn)和資料
第二講 失效分析技術(shù)和設(shè)備
1. 失效分析基本程序
a.基本方法與程序
b.失效信息調(diào)查與方案設(shè)計(jì)
c.非破壞性分析的基本路徑
d.半破壞性分析的基本路徑
e.破壞性分析的基本路徑
f.報(bào)告編制
2. 非破壞性分析的基本路徑
a.外觀檢查
b.電參數(shù)測(cè)試分析與模擬應(yīng)力試驗(yàn)
c.檢漏與PIND
d.X光與掃描聲學(xué)分析
3. 半破壞性分析的基本路徑
a.開封技術(shù)與可動(dòng)微粒收集 b.內(nèi)部氣氛檢測(cè)(與前項(xiàng)有沖突)
c.不加電的內(nèi)部檢查(光學(xué).SEM與EDS.微區(qū)成分)
d.加電的內(nèi)部檢查(微探針.紅外熱像.EMMI光發(fā)射.電壓襯度像.束感生電流像.電子束探針).
4. 破壞性分析的基本路徑
a.去除鈍化層技術(shù)(濕法.干法)
b.剖切面技術(shù)及分析(切片)
5. 分析技術(shù)與分析設(shè)備清單
第三講 失效分析典型案例
1. 系統(tǒng)設(shè)計(jì)缺陷引起的失效
2. CMOS IC 閂鎖效應(yīng)失效
3. 靜電損傷失效
4. 過電損傷失效
5. 熱應(yīng)力失效
6. 機(jī)械應(yīng)力損傷失效
7. 電腐蝕失效
8. 污染失效
9. 熱結(jié)構(gòu)缺陷引起過熱失效
10.其他缺陷引起的失效
11.壽命失效
講師-李少平老師
李少平老師：高級(jí)工程師，1984年畢業(yè)于成都電訊工程學(xué)院（現(xiàn)中國電子科技大學(xué)）半導(dǎo)體器件專業(yè)，畢業(yè)后一直在中國賽寶實(shí)驗(yàn)室（信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所）可靠性研究分析中心從電子產(chǎn)品可靠性分析、研究工作。長期從事對(duì)電子企業(yè)的可靠性增長和產(chǎn)品失效分析工作，具有豐富的失效分析經(jīng)驗(yàn)，并積累了大量的經(jīng)典分析案例，是中國賽寶實(shí)驗(yàn)室（信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所）可靠性研究分析中心資深的失效分析專家。
主要培訓(xùn)的企業(yè)有：美的失效分析實(shí)驗(yàn)室建設(shè)技術(shù)咨詢和失效分析技術(shù)培訓(xùn)，海爾檢測(cè)中心的技術(shù)咨詢和失效分析技術(shù)培訓(xùn)，廣東核電進(jìn)行電子元器件老化技術(shù)，繼電器老化管理，板件老化管理培訓(xùn)，中興通訊的失效分析技術(shù)培訓(xùn)，富士康失效分析技術(shù)現(xiàn)場(chǎng)研討，中國賽寶實(shí)驗(yàn)室元器件可靠性研究分析中培訓(xùn)學(xué)員的實(shí)習(xí)指導(dǎo)，以及失效分析專題公開培訓(xùn)。先后參與《失效分析經(jīng)典案例100例》和《電子元器件失效技術(shù)》的編寫。
中國賽寶實(shí)驗(yàn)室（信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所）是可靠性專業(yè)的綜合研究所，屬下的可靠性研究分析中心專門從可靠性物理的研究和分析工作，面向軍、民企業(yè)提供可靠性支撐技術(shù)，直接的服務(wù)主要是包括失效分析的可靠性技術(shù)。可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室的依托實(shí)體就是信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所可靠性研究分析中心。