電子元器件應(yīng)用可靠性和失效分析技術(shù)
主辦單位：上海普瑞思管理咨詢(xún)有限公司 上海創(chuàng)卓商務(wù)咨詢(xún)有限公司
日期地址：2015年07月24-25日 廣州
培訓(xùn)費(fèi)用：2800元/人（含培訓(xùn)費(fèi)、資料費(fèi)、午餐、稅費(fèi)等）
課程目的
什么是
可靠性？什么是Pof（失效物理學(xué)）？可靠性工程為何會(huì)演進(jìn)到以Pof為主導(dǎo)？在嚴(yán)酷的競(jìng)爭(zhēng)環(huán)境中如何權(quán)衡可靠性與經(jīng)濟(jì)性的得失？過(guò)時(shí)的技術(shù)為何會(huì)誤導(dǎo)設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)？
本講座以Pof為核心技術(shù)脈絡(luò)，點(diǎn)出產(chǎn)品可靠性形成與延續(xù)的若干要素，提出可靠性分析的著力點(diǎn)，給出可靠性分析的核心技術(shù)方法與工具，將設(shè)計(jì)、物料、制造、試驗(yàn)、認(rèn)證、數(shù)據(jù)分析中的可靠性要點(diǎn)有機(jī)地串連起來(lái)，闡述以國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化的
FMEA活動(dòng)為實(shí)施載體推進(jìn)可靠性工程的途徑。
本講座以1000個(gè)分析案例的統(tǒng)計(jì)歸納為基礎(chǔ)素材，發(fā)布最新的電子產(chǎn)品失效模式分布、各類(lèi)元器件的失效機(jī)理和應(yīng)用對(duì)策。通過(guò)80個(gè)案例的演繹，結(jié)合講師多年的工程實(shí)操經(jīng)驗(yàn)，理論聯(lián)系實(shí)際，深入淺出，充分調(diào)動(dòng)學(xué)員的學(xué)習(xí)興趣。有助于全面建立管理和技術(shù)人員的可靠性大局觀，提高認(rèn)知水平，掌握解決實(shí)際技術(shù)問(wèn)題的技能和方法。
本講座曾在國(guó)內(nèi)多家品牌公司舉辦，受到高管和技術(shù)人員的歡迎。
了解可靠性技術(shù)的演變，掌握失效物理方法的概念和工程應(yīng)用途徑
了解電子產(chǎn)品前沿可靠性分析的基本概念、新的偵測(cè)分析方法和手段
學(xué)習(xí)失效模式影響分析（FMEA）方法，提早發(fā)現(xiàn)可靠性問(wèn)題途徑
了解失效分析技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r、在現(xiàn)代可靠性工程中地位與價(jià)值
學(xué)習(xí)失效分析的基本概念、標(biāo)準(zhǔn)和應(yīng)用
元器件應(yīng)用可靠性精選案例研習(xí)
培訓(xùn)對(duì)象
企業(yè)對(duì)象：電子產(chǎn)品研發(fā)制造企業(yè)
人員對(duì)象：電子技術(shù)創(chuàng)新行業(yè)的高級(jí)管理人員、產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)師、工藝師、質(zhì)量師和可靠性師、失效分析技術(shù)人員
培訓(xùn)時(shí)間
2.0天~3.0天
培訓(xùn)大綱
1．元器件應(yīng)用可靠性
1．1可靠性工作的目的
控制產(chǎn)品失效
平衡可靠性與經(jīng)濟(jì)性
1．2可靠性的概念和術(shù)語(yǔ)釋疑
半個(gè)多世紀(jì)的技術(shù)變遷
術(shù)語(yǔ)，影響工作態(tài)度的術(shù)語(yǔ)
可靠性技術(shù)的理論基礎(chǔ)，失效物理學(xué)
失效物理學(xué)vs傳統(tǒng)可靠性理論
1．3失效機(jī)理知識(shí)庫(kù)
典型失效機(jī)理若干種
壽命模型若干
1．4可靠性工作的核心途徑和入手點(diǎn)
故障（潛在故障）-機(jī)理分析-改進(jìn)措施-驗(yàn)證-文件化
故障析出點(diǎn)：從研制、生產(chǎn)、流通、外場(chǎng)使用等環(huán)節(jié)析出故障，分析產(chǎn)品發(fā)生的故障的原因。
故障誘發(fā)因素：從電磁環(huán)境、機(jī)械和氣候環(huán)境、生物環(huán)境、生產(chǎn)環(huán)境和人文環(huán)境等分析誘發(fā)產(chǎn)品失效的因素。
產(chǎn)品的內(nèi)部不穩(wěn)定性：參數(shù)漂移、EMC、潛在通路、元器件老化、生產(chǎn)工藝等。
1．5元器件失效模式和應(yīng)用對(duì)策
半導(dǎo)體分立器件、集成電路、封裝組件、元件的失效模式分布
元器件選擇和應(yīng)用對(duì)策
壽命問(wèn)題案例
1．6可靠性設(shè)計(jì)評(píng)審和FMEA案例
設(shè)計(jì)評(píng)審的議程、準(zhǔn)備和實(shí)施
FMEA分析方法
FMEA案例
人之間的那些瑣碎事兒
失效分析技術(shù)
2．1失效分析綱要
失效分析的流程
方案設(shè)計(jì)的要點(diǎn)
研究失效問(wèn)題的工具
2．2非破壞性分析
顯微鏡的使用要點(diǎn)
I-V特性分析，可靠性敏感參數(shù)的概念和案例
PIND和檢漏
X-ray和C-sam
2．3半破壞性分析
開(kāi)封和IVA技術(shù)
靜態(tài)內(nèi)部檢查，SEM和EDS原理與應(yīng)用
加載內(nèi)部檢查，微探針、紅外熱像、電壓襯度像、電子束探針、光發(fā)射顯微成像
2．4破壞性分析
去處鈍化層技術(shù)
金相切片技術(shù)
2．5先進(jìn)分析技術(shù)清單
3．失效分析典型案例
電路設(shè)計(jì)缺陷引起的失效
過(guò)電損傷失效
熱應(yīng)力失效
機(jī)械應(yīng)力損傷失效
電腐蝕失效
熱結(jié)構(gòu)缺陷引起過(guò)熱失效
組裝缺陷失效（微波組件失效特點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)分析）
壽命失效
講師簡(jiǎn)介
張曉明，廣州然因普電子科技有限公司高級(jí)咨詢(xún)師，中國(guó)賽寶實(shí)驗(yàn)室可靠性分析中心顧問(wèn)。具有25年電子行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，16年可靠性研發(fā)和技術(shù)推廣工作，技術(shù)機(jī)構(gòu)13年管理經(jīng)驗(yàn)，政府機(jī)構(gòu)和品牌企業(yè)的高級(jí)顧問(wèn)。領(lǐng)導(dǎo)的團(tuán)隊(duì)十多年來(lái)為上千家企事業(yè)單位提供可靠性分析、改進(jìn)和可靠性體系建設(shè)的技術(shù)服務(wù)
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