SPC統(tǒng)計(jì)過程控制-控制圖
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連續(xù)數(shù)據(jù)和離散數(shù)據(jù)
連續(xù)型:使用測量的可以有意義地?zé)o限分割的連續(xù)數(shù)值。 (時(shí)間，長度)
離散型:類別信息，可以計(jì)數(shù)但是不能有意義的分割。(合格/不合格)
控制圖由中心線，控制上限(UCL)及控制下限(LCL)組成。注意控制限和規(guī)格限的區(qū)別，控制極限(UCL,LCL)是根據(jù)平均值計(jì)算得出的，是按過程中心值+/- 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算出來的。即控制極限是根據(jù)樣本數(shù)據(jù)計(jì)算得出的，是過程的內(nèi)部特征。控制極限是由過程能力決定的。規(guī)格極限(USL,LSL)是由執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)決定的，是過程的外部特征。大多數(shù)規(guī)格是關(guān)于個(gè)體數(shù)值的，是由客戶的要求決定的。
控制圖上表現(xiàn)出來的波動(dòng)分為由一般原因引起的波動(dòng)和由特殊原因引起的波動(dòng)，對于特殊原因引起的波動(dòng)更加容易發(fā)現(xiàn)，比如超出了控制上限或控制下限或者常說的控制圖七點(diǎn)判異規(guī)則。控制圖的作用就是要發(fā)現(xiàn)這些異常，并且分析根源采取糾正措施.
控制圖的使用和選擇
連續(xù)的分組數(shù)據(jù):XBar-R控制圖和XBar-S控制圖。
連續(xù)的單值數(shù)據(jù):I-MR控制圖。
離散的符合二項(xiàng)分布的不合格品數(shù):(分組樣品容量相等用nP控制圖，不等用P控制圖)
離散的符合泊松分布的缺陷數(shù)::(分組樣品容量相等用C控制圖，不等用U控制圖)
XBar-R控制圖
XBar(平均值控制圖)反映變量X隨時(shí)間的集中趨勢及分組樣本之間的變動(dòng)性。注意控制圖中的每個(gè)點(diǎn)是每個(gè)分組的平均值，而控制圖的中心線是分組的平均值的平均值。R(極差控制圖)極差控制圖監(jiān)測的是分組樣本內(nèi)部隨時(shí)間的變動(dòng)。該圖的中心線代表長期的分組樣本之極差的平均值,或稱為R。對于R控制圖只適合于樣本容量較小的場合。
XBar-S控制圖
XBar(平均值控制圖)反映變量X隨時(shí)間的集中趨勢及分組樣本之間的變動(dòng)性。這個(gè)同XBar-R控制圖。對于S控制圖是值標(biāo)準(zhǔn)差，標(biāo)準(zhǔn)差控制圖監(jiān)測的是分組樣本內(nèi)部隨時(shí)間的變動(dòng)。該 圖的中心線代表長期的分組樣本之標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值，標(biāo)準(zhǔn)差圖可適用于分組樣本容量(即n)大于2的任何場合。(為驗(yàn)證過程是否穩(wěn)定，每天采樣10個(gè)數(shù)據(jù)值，一共采樣10天。)
I-MR(Individuals and Moving Range)控制圖
主要是反映連續(xù)的單值數(shù)據(jù)隨時(shí)間的變化。使用范圍在過程的特性值較少，每次都只能夠得到一個(gè)數(shù)據(jù)。I-MR圖由于使用個(gè)體數(shù)值，與X bar-R圖比較更易受干擾。比如我們要記錄車輛來回AB兩點(diǎn)的時(shí)間是否受控，可以記錄一系列連續(xù)的數(shù)據(jù)值進(jìn)行I-MR控制圖分析。
P圖和nP圖(離散數(shù)據(jù)的不合格數(shù))
P圖是一種計(jì)數(shù)型控制圖，它繪制的是每個(gè)樣本的不合格品率。每個(gè)分組樣本可以有相同的樣本量或者不相同的樣本量。此圖通用性最強(qiáng)，在計(jì)數(shù)型控制圖中用途最廣。P圖一般需要較大的樣本容量。質(zhì)量越好，那么要檢測出過程失控就需要越大的分組樣本。(記錄每天的焊點(diǎn)數(shù)和焊點(diǎn)的不良個(gè)數(shù)，焊點(diǎn)數(shù)為分組樣品每天是可以不同的。)nP圖：是一種計(jì)數(shù)型控制圖，它繪制的是每個(gè)分組樣本中的不合格品數(shù)。每個(gè)分組樣本必須有相同的樣本量或者各個(gè)樣本量足夠相似可以看作相等。
C圖和U圖(離散數(shù)據(jù)的缺陷數(shù))
C圖是一種計(jì)數(shù)型控制圖，它繪制的是每個(gè)樣本中的缺陷數(shù)(不符合性)。當(dāng)所有樣本具有相同的樣本量時(shí)，C圖便是一種很實(shí)用的選擇。U圖：是一種計(jì)數(shù)型控制圖，它繪制的是每個(gè)樣本中的單位平均缺陷數(shù)，即描述了樣本數(shù)變化時(shí)每個(gè)單元的缺陷數(shù)。這里要注意不合格數(shù)和缺陷數(shù)的區(qū)別，不合格品數(shù)是針對樣本本身來說的(要么合格，要么不合格)；缺陷數(shù)是針對樣本內(nèi)部的，說明樣本的符合性，而不是針對樣本本身。